4月14日，光电处组织15-20期新审查员进行08年第二次集中答疑。
　　　在3月5日答疑的基础上，针对15-20期新审查员工作中出现的问题，光电处导师工作组进行了归纳总结。 4月14日上午，分别由王靖室主任和张璇、贾允、陈旭红三位导师为19、20期新审查员进行答疑解惑；由张春伟室主任和兰霞、刘莹、高琛颢三位导师为17、18期新审查员进行指导。下午，由赵向阳室主任和张苗、卞喜双、田静怡三位导师为15、16期审查员进行集中答疑。
　　 第一次答疑使大家获益匪浅，这次答疑中问题明显少于上次。面对这种情况，导师组采用了“有问题个别提出”的方式，主要针对：PCT申请进入国家阶段修改超范围的判断、删除技术特征时超范围的判断、对于专利法25条和专利法实施细则第2条第1款如何把握、对于重复授权的判断等30余个问题展开讨论，在大家各抒己见之余，导师再分别对这些问题进行点评。这些点评起到了“画龙点睛”的作用，使大家的认识更进一步，潜移默化中提高了自己的审查水平。同时，各位导师还分享了他们自己审查过程中的一些心得。
　　对于正处于提高阶段的新审查员来说，这次集中答疑，集中重点问题进行各个击破，进一步加强了新审查员对于一些条款的理解和运用，这无疑对迅速提高审查业务水平、拓宽审查视野都有着良好的促进作用。（光电处宣传组 赵慧）